位于美國馬塞諸塞州格羅斯特市的巴頓菲爾?格羅斯特工程公司開發(fā)出創(chuàng)新的阻隔薄膜厚度掃描儀，它精度高，能迅速將數(shù)據(jù)傳送給工藝控制器，名為矩形框架式膜厚掃描儀，它采用一個固定的b 探測器，在任何溫度都能無接觸式地對多層薄膜進(jìn)行測量，并對于所有的阻隔性樹脂均有效。同時它還能通過該公司的Extroltm 專利工藝控制系統(tǒng)，提供實(shí)時的控制采用中繼方式，和其他測厚儀相比，數(shù)據(jù)傳輸控制速率顯著提高。
矩形框架式膜厚掃描儀安裝在旋轉(zhuǎn)往復(fù)式牽引裝置和夾輥間，測量夾泡后的平折膜厚。掃描儀的b探測器安裝在矩形的框架中，薄膜通過框架后分離。探測器能精確地掃描薄膜的兩面，并在牽引裝置只是旋轉(zhuǎn)90度后傳輸數(shù)據(jù)。

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